0 前言
自古以來人們對(duì)物品安全就十分重視，數(shù)字化的今天，電子鎖正在逐步取代以往的機(jī)械鎖被廣泛運(yùn)用在門禁、銀行和保險(xiǎn)柜。然而，這些基于單片機(jī)的密碼鎖可靠性較差，而且功能拓展有限。隨著物聯(lián)網(wǎng)技術(shù)的發(fā)展，人們對(duì)電子鎖安全性和可靠性又提出了新的要求。本文所述的FPGA,即現(xiàn)場可編程門陣列，它是在PAL、GAL、CPLD等可編程器件的基礎(chǔ)上進(jìn)一步發(fā)展的產(chǎn)物。由于其高集成度，使得電子產(chǎn)品在體積上大大縮減，且具有可靠、靈活、高效等特性，己備受設(shè)計(jì)師們的青睞。
1 系統(tǒng)概述
1.1 功能概述
（1）初始密碼為000000,按C鍵設(shè)置密碼，密碼設(shè)置完成后按A鍵即上鎖。
（2）以4×4鍵盤為輸入設(shè)備，按B鍵開始密碼輸入，串行輸入6位密碼，輸入完成后按#鍵，確認(rèn)密碼輸入完成。七段數(shù)碼管將顯示用戶所輸入的數(shù)字。
（3）密碼輸入正確，則開鎖指示燈滅，若密碼輸入錯(cuò)誤或位數(shù)不足，報(bào)警燈亮。
（4）處于報(bào)警狀態(tài)時(shí)，按*鍵可解除報(bào)警。
（5）為保證安全，系統(tǒng)只有在開鎖狀態(tài)時(shí)，按C鍵，用戶才可重新設(shè)置密碼。
1.2 系統(tǒng)結(jié)構(gòu)
系統(tǒng)以4×4矩陣鍵盤為輸入設(shè)備，七段數(shù)碼管和指示燈為系統(tǒng)的輸入顯示和輸出指示器。系統(tǒng)內(nèi)部可分為以下幾個(gè)模塊：鍵盤掃描及消抖電路、分頻電路、譯碼電路、編碼器、寄存器、比較器、控制器、計(jì)數(shù)器。系統(tǒng)結(jié)構(gòu)大致如圖1所示。
按鍵所用開關(guān)為機(jī)械彈性開關(guān)，當(dāng)機(jī)械觸點(diǎn)斷開、閉合時(shí)，由于機(jī)械觸點(diǎn)的彈性作用，一個(gè)按鍵開關(guān)在閉合或斷開時(shí)不會(huì)穩(wěn)定地接通或立即斷開，在電路上則會(huì)表現(xiàn)為連續(xù)地輸入同一個(gè)值。因此在鍵盤掃描電路里加入了鍵盤消抖程序。為使用戶能夠看到自己所輸入的密碼，將七段數(shù)碼管的顯示電路也集中到了鍵盤掃描電路內(nèi)。鍵盤掃描所用的時(shí)鐘頻率為1kHz,故將系統(tǒng)所用的1MHz的時(shí)鐘分頻為1kHz供鍵盤掃描用，以分頻模塊為例，其程序如下：
1.3 狀態(tài)機(jī)
狀態(tài)機(jī)（FSM）在一個(gè)有限狀態(tài)之下以目前電路所處的狀態(tài)為準(zhǔn)，一旦外加時(shí)序及輸入信號(hào)來臨，則以目前的狀態(tài)及輸入信號(hào)的變化狀況為依據(jù)，產(chǎn)生下一次的狀態(tài)及電位。狀態(tài)機(jī)是密碼鎖的主要控制部分，如圖2所示，狀態(tài)分為7種，S1:密碼修改狀態(tài)；S2:開鎖狀態(tài)；S3:閉鎖狀態(tài)：S4:密碼輸入正確狀態(tài)：S5:密碼輸入狀態(tài)；S6:密碼輸入錯(cuò)誤狀態(tài)；S7:報(bào)警狀態(tài)。
系統(tǒng)上電時(shí)，處于開鎖狀態(tài)，當(dāng)輸入change信號(hào)時(shí)，系統(tǒng)進(jìn)入修改密碼狀態(tài)；若輸入lock信號(hào)，進(jìn)入安鎖狀態(tài)，鎖閉合；在安鎖狀態(tài)，輸入start信號(hào)，進(jìn)入輸入密碼狀態(tài)；在輸入密碼狀態(tài)，由ps_i_l密碼脈沖作為計(jì)數(shù)時(shí)鐘，計(jì)數(shù)值輸出作為寄存器地址，當(dāng)計(jì)數(shù)器計(jì)到6時(shí)，返回計(jì)數(shù)滿信號(hào)cin,如果密碼內(nèi)容和長度均正確，進(jìn)入密碼初驗(yàn)正確狀態(tài)，如果密碼錯(cuò)誤，進(jìn)入密碼初驗(yàn)錯(cuò)誤狀態(tài)；在密碼初驗(yàn)正確狀態(tài)，輸入確認(rèn)信號(hào)enter時(shí)，進(jìn)入開鎖狀態(tài)；在密碼初驗(yàn)錯(cuò)誤狀態(tài)，輸入確認(rèn)信號(hào)enter時(shí)，進(jìn)入報(bào)警狀態(tài)；在報(bào)警狀態(tài)，warn信號(hào)等于‘1",如果輸入清楚報(bào)警信號(hào)off_al,則進(jìn)入安鎖狀態(tài)。以開鎖過程為例，其功能仿真波形如圖3所示。
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