并聯(lián)電容器組紅外熱像方法依據(jù)UL/T 664-2008《帶電設(shè)備紅外診斷應(yīng)用規(guī)范》執(zhí)行。
二、診斷判據(jù)
表3-17-1 電流致熱型設(shè)備缺陷診斷判據(jù)
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設(shè)備類別和部位 |
熱像特征 |
故障特征 |
缺陷性質(zhì) |
處理建議 |
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一般缺陷 |
嚴重缺陷 |
危急缺陷 |
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電容器 |
熔絲 |
以熔絲中部靠電容側(cè)為最熱的熱像 |
熔絲容量不夠 |
溫差不超過10K，未達到重要缺陷的要求 |
熱點溫度>55℃或б≥80% |
熱點溫度>80℃或б≥95% |
檢查熔絲 |
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熔絲座 |
以熔絲座為最熱的熱像 |
熔絲與熔絲座之間接觸不良 |
溫差不超過10K,未達到重要缺陷的要求 |
熱點溫度>55℃或б≥80% |
熱點溫度>80℃或б≥95% |
檢查熔絲 |
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