產(chǎn)品概述
北京金德APM-JD3D物位掃描儀是迄今為止可實(shí)際投入工業(yè)領(lǐng)域應(yīng)用僅有的一種可以準(zhǔn)確檢測(cè)固體物料和體積的創(chuàng)新和成熟技術(shù)，而且不受物料種類(lèi)，物化性能，貯存物料間，開(kāi)放倉(cāng)或料倉(cāng)的類(lèi)型和尺寸的影響并適用于惡劣的物料貯存環(huán)境。APM-JD3D物位掃描儀利用三個(gè)信號(hào)傳送器發(fā)射低頻脈沖，并接受來(lái)自筒倉(cāng)，開(kāi)放倉(cāng)或者其它料位倉(cāng)內(nèi)物料表面的脈沖回波。通過(guò)使用三個(gè)喇叭狀天線(xiàn)，設(shè)備不僅能夠監(jiān)測(cè)到每個(gè)回波的時(shí)間/距離，還能監(jiān)測(cè)到回波的方向。該設(shè)備的數(shù)字信號(hào)處理器對(duì)接收到的信號(hào)進(jìn)行取樣和分析，非常準(zhǔn)確的監(jiān)測(cè)出物料的物位、體積和質(zhì)量，生成料倉(cāng)內(nèi)物料的實(shí)際分布狀況的三維立體圖像，并在遠(yuǎn)程電腦上顯示出來(lái)。APM-JD3D物位掃描儀實(shí)際上可以監(jiān)測(cè)儲(chǔ)存在各種料倉(cāng)包括筒倉(cāng)，大型開(kāi)放倉(cāng)，固體物料儲(chǔ)存室，堆場(chǎng)和倉(cāng)庫(kù)中的各種散狀固體物料，標(biāo)出料倉(cāng)內(nèi)的物料物位以及繪制出物料隨時(shí)變化而隨機(jī)形成的不規(guī)則表面形狀，計(jì)算出物料的實(shí)際體積，使物位監(jiān)測(cè)水平達(dá)到了新的高度，從而可以提供方案解決目前技術(shù)無(wú)法解決的問(wèn)題。APM-JD3D物位掃描儀儀所發(fā)出的低頻聲波可穿透懸浮的粉塵，而不像其他技術(shù)非常惡劣環(huán)境下測(cè)量時(shí)會(huì)存在“疑惑”的信號(hào)。聲波信號(hào)含有專(zhuān)利的自潔功能可防止材料黏附在料位計(jì)設(shè)備的內(nèi)表面，從而保證在任何惡劣的環(huán)境下以非常低的維護(hù)量進(jìn)行長(zhǎng)期可靠的工作。

工作原理
APM-JD3D物位掃描儀基于二維數(shù)組波束形成器傳送低頻脈沖，接收來(lái)自筒倉(cāng)、倉(cāng)室或其他容室內(nèi)物料的回波。設(shè)備的數(shù)字信號(hào)處理器對(duì)接收到的信號(hào)進(jìn)行取樣和分析，通過(guò)估算回波到達(dá)的時(shí)間和方向，處理器形成一個(gè)物料表面的三維圖，這個(gè)圖像通過(guò)一種專(zhuān)有的計(jì)算方法對(duì)信息進(jìn)行處理并生成3D圖象，可以在遠(yuǎn)端屏幕上顯示出來(lái). 設(shè)備可以據(jù)此準(zhǔn)確得出物料的體積和質(zhì)量，夠使工藝物位監(jiān)測(cè)和庫(kù)存控制達(dá)到一個(gè)新的高度。精確的物料檢測(cè)能夠提高操作效率和管理能力，高成本突發(fā)狀況減少，加快收益回饋。

產(chǎn)品系列
APM-JD3D體積物位掃描儀現(xiàn)有四個(gè)型號(hào)供用戶(hù)選擇
APM-JD3DLevelScanner S 檢測(cè)儲(chǔ)存物料的平均體積。基于30度波束角，S型是檢測(cè)直徑為4m以下，高度（最高至70m

企業(yè)的其它相關(guān)信息